- 产品详情
| 类型： | 涂层测厚仪、薄膜测厚仪 | 产地： | 中国 |
| 是否进口： | 否 | 加工定制： | 是 |
| 货号： | 纳米级光学干涉 | 品牌： | PSD |
| 型号： | PSD-2000P | 测量范围： | 2nm - 200 ummm |
| 工作温度： | 0-50 ℃（℃） | 准确性： | 2nm或0.5% |
| 精度： | 0.1nm | 测量时间： | 小于1秒 |
| 光斑大小： | 大约1mm |
纳米级光学干涉厚度(克重)仪
应用: PET、PE、PMMA等薄膜·离型膜·沉积膜·金属表面漆膜涂层·膜涂层·塑料涂层
产品简介:
PSD-2000型在线纳米级光学干涉厚度(克重)仪利用光谱相干测量学,用于测量半导体制造过程中的薄膜厚度,以及安装在半导体制造设备上的APC和薄膜的质量控制,能够测量单层/多层/涂布层在不透光基板上的厚度(克重),精准度可达纳米级。
PSD-2000型在线纳米级光学干涉厚度(克重)仪,其核心部件主要源自于美国Ocean Optics有限公司,其微型光谱仪体积小巧,可对全谱进行采集,产品应用广泛,可用于生化、光电、航空航天、环境保护、安全检测、农业等行业,可进行 Low-E玻璃镀膜检测,ITO玻璃镀膜检测,PET涂布在线膜厚检测,金属表面涂层检测,半导体,LCD膜厚检测等。
工作原理: 分光干涉法
当光入射到样品内部,会发生多重反射现象,多重反射光会由于相互之间的相位差增强或减弱,而相位差取决于样品的折射率和光程,因此来自于样本的反射光谱与其厚度有直接关系。光谱干涉法就是利用这种独特的光谱分析出样品的厚度,该厚度测量仪器根据测试范围的不同主要使用曲线拟合和FFT两种方法对光谱进行分析。
应用范围:
PET薄膜厚度测量
涂层厚度测量,如HC,保护膜,光刻胶,OCA,离型膜等涂布厚度或克重的测量
用于包装的PET表面介质膜克重或膜厚测量
金属表面透明和半透明漆膜涂层
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